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Charged Semiconductor Defects

Structure, Thermodynamics and Diffusion

Produktform: E-Buch Text Elektronisches Buch in proprietärem

Dieser Artikel gehört zu den folgenden Serien

Elektronisches Format: PDF

Sprache(n): Englisch

ISBN: 978-1-84882-059-3 / 978-1848820593 / 9781848820593

Verlag: Springer London

Erscheinungsdatum: 14.11.2008

Seiten: 298

Autor(en): Edmund G. Seebauer, Meredith C. Kratzer

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