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CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies

Process-Aware SRAM Design and Test

Produktform: Buch / Einband - flex.(Paperback)

Dieser Artikel gehört zu den folgenden Serien

Sprache(n): Englisch

ISBN: 978-90-481-7855-1 / 978-9048178551 / 9789048178551

Verlag: Springer Netherland

Erscheinungsdatum: 28.10.2010

Seiten: 194

Auflage: 1

Autor(en): Manoj Sachdev, Andrei Pavlov

171,19 € inkl. MwSt.
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