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CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies

Process-Aware SRAM Design and Test

Produktform: E-Buch Text Elektronisches Buch in proprietärem

Dieser Artikel gehört zu den folgenden Serien

Elektronisches Format: PDF

Sprache(n): Englisch

ISBN: 978-1-4020-8363-1 / 978-1402083631 / 9781402083631

Verlag: Springer Netherland

Erscheinungsdatum: 01.06.2008

Seiten: 194

Autor(en): Manoj Sachdev, Andrei Pavlov

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