Noch Fragen? 0800 / 33 82 637

Artikel empfehlen

Deep Learning for Advanced X-ray Detection and Imaging Applications

Produktform: Buch / Einband - fest (Hardcover)

Sprache(n): Englisch

ISBN: 978-3-031-75652-8 / 978-3031756528 / 9783031756528

Verlag: Springer International Publishing

Erscheinungsdatum: 12.01.2025

Auflage: 1

Herausgegeben von Krzysztof (Kris) Iniewski, Liang (Kevin) Cai

ca. 139,09 € inkl. MwSt.
Preis kann sich ändern
kostenloser Versand

vorbestellbar

zurück