Noch Fragen? 0800 / 33 82 637

Digital Noise Monitoring of Defect Origin

Produktform: Buch / Einband - flex.(Paperback)


Dieser Artikel gehört zu den folgenden Serien

Sprache(n): Englisch

ISBN: 978-1-4419-4410-8 / 978-1441944108 / 9781441944108

Verlag: Springer US

Erscheinungsdatum: 24.11.2010

Seiten: 224

Auflage: 1

Autor(en): Telman Aliev

106,99 € inkl. MwSt.
kostenloser Versand

lieferbar - Lieferzeit 10-15 Werktage

zurück