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Digital Noise Monitoring of Defect Origin

Produktform: Buch / Einband - fest (Hardcover)

Dieser Artikel gehört zu den folgenden Serien

Sprache(n): Englisch

ISBN: 978-0-387-71753-1 / 978-0387717531 / 9780387717531

Verlag: Springer US

Erscheinungsdatum: 25.07.2007

Seiten: 224

Auflage: 1

Autor(en): Telman Aliev

106,99 € inkl. MwSt.
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