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Electrical Atomic Force Microscopy for Nanoelectronics

Produktform: Buch / Einband - fest (Hardcover)


Dieser Artikel gehört zu den folgenden Serien

Sprache(n): Englisch

ISBN: 978-3-030-15611-4 / 978-3030156114 / 9783030156114

Verlag: Springer International Publishing

Erscheinungsdatum: 24.08.2019

Seiten: 408

Auflage: 1

Herausgegeben von Umberto Celano

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