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Electrical Atomic Force Microscopy for Nanoelectronics

Produktform: E-Buch Text Elektronisches Buch in proprietärem

Dieser Artikel gehört zu den folgenden Serien

Elektronisches Format: PDF

Sprache(n): Englisch

ISBN: 978-3-030-15612-1 / 978-3030156121 / 9783030156121

Verlag: Springer International Publishing

Erscheinungsdatum: 01.08.2019

Seiten: 408

Herausgegeben von Umberto Celano

171,19 € inkl. MwSt.
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