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Electromigration Inside Logic Cells

Modeling, Analyzing and Mitigating Signal Electromigration in NanoCMOS

Produktform: E-Buch Text Elektronisches Buch in proprietärem

Elektronisches Format: PDF

Sprache(n): Englisch

ISBN: 978-3-319-48899-8 / 978-3319488998 / 9783319488998

Verlag: Springer International Publishing

Erscheinungsdatum: 26.11.2016

Seiten: 118

Autor(en): Ricardo Reis, Gracieli Posser, Sachin S. Sapatnekar

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