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Electromigration Inside Logic Cells

Modeling, Analyzing and Mitigating Signal Electromigration in NanoCMOS

Produktform: Buch / Einband - fest (Hardcover)

Sprache(n): Englisch

ISBN: 978-3-319-48898-1 / 978-3319488981 / 9783319488981

Verlag: Springer International Publishing

Erscheinungsdatum: 16.12.2016

Seiten: 118

Auflage: 1

Autor(en): Ricardo Reis, Gracieli Posser, Sachin S. Sapatnekar

53,49 € inkl. MwSt.
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