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Electromigration Inside Logic Cells

Modeling, Analyzing and Mitigating Signal Electromigration in NanoCMOS

Produktform: Buch / Einband - flex.(Paperback)

Sprache(n): Englisch

ISBN: 978-3-319-84041-3 / 978-3319840413 / 9783319840413

Verlag: Springer International Publishing

Erscheinungsdatum: 05.07.2018

Seiten: 118

Auflage: 1

Autor(en): Ricardo Reis, Gracieli Posser, Sachin S. Sapatnekar

53,49 € inkl. MwSt.
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