Dieses Buch, das aus dem erfolgreichen dreibändigen Handbook of Microscopy hervorging, gewährt einen breiten Überblick über die physikalischen Grundlagen und Prinzipien aller modernen Techniken der Elktronenmikroskopie. Diese Kompendium der am weitesten verbreiteten Methode zur Oberflächencharakterisierung bietet einen kompetenten Vergleich der neuesten Entwicklungen in diesem hochaktuellen Gebiet. Behandelt werden unter anderem: * Stationary Beam Methods: Transmission Electron Microscopy /Electron Energy Loss Spectroscopy/ Convergent Electron Beam Diffraction/Low Energy Electron Microscopy/ Electron Holographic Methods * Scanning Beam Methods: /Scanning Transmission Electron Microscopy/Scanning Auger and XPS Microscopy/Scanning Microanalysis/Imaging Secondary Ion Mass Spectrometry Das Werk richtet sich gleichermaßen an Materialwissenschaftler, Oberfächenchemiker und -physiker , die mehr über die Prinzipien der Elektronenmikroskopie wissen wollen.weiterlesen