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Electron Nano-Imaging

Basics of imaging and diffraction for TEM and STEM

Produktform: E-Buch Text Elektronisches Buch in proprietärem

Elektronisches Format: PDF

Sprache(n): Englisch

ISBN: 978-4-431-56502-4 / 978-4431565024 / 9784431565024

Verlag: Springer Tokyo

Erscheinungsdatum: 04.04.2017

Seiten: 333

Autor(en): Nobuo Tanaka

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