Noch Fragen? 0800 / 33 82 637

Artikel empfehlen

Electron Nano-Imaging

Basics of imaging and diffraction for TEM and STEM

Produktform: Buch / Einband - fest (Hardcover)

Sprache(n): Englisch

ISBN: 978-4-431-56500-0 / 978-4431565000 / 9784431565000

Verlag: Springer Tokyo

Erscheinungsdatum: 10.04.2017

Seiten: 333

Auflage: 1

Autor(en): Nobuo Tanaka

96,29 € inkl. MwSt.
kostenloser Versand

lieferbar - Lieferzeit 10-15 Werktage

zurück