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Electron Nano-Imaging

Basics of Imaging and Diffraction for TEM and STEM

Produktform: Buch / Einband - flex.(Paperback)

Sprache(n): Englisch

ISBN: 978-4-431-56804-9 / 978-4431568049 / 9784431568049

Verlag: Springer Tokyo

Erscheinungsdatum: 25.07.2018

Seiten: 333

Auflage: 1

Autor(en): Nobuo Tanaka

96,29 € inkl. MwSt.
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