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Emerging Nanotechnologies

Test, Defect Tolerance, and Reliability

Produktform: E-Buch Text Elektronisches Buch in proprietärem

Dieser Artikel gehört zu den folgenden Serien

Elektronisches Format: PDF

Sprache(n): Englisch

ISBN: 978-0-387-74747-7 / 978-0387747477 / 9780387747477

Verlag: Springer US

Erscheinungsdatum: 08.12.2007

Seiten: 408

Herausgegeben von Mohammad Tehranipoor

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