Noch Fragen? 0800 / 33 82 637

Artikel empfehlen

Field Emission Scanning Electron Microscopy

New Perspectives for Materials Characterization

Produktform: Buch / Einband - flex.(Paperback)

Dieser Artikel gehört zu den folgenden Serien

Sprache(n): Englisch

ISBN: 978-9811044328 / 978-9811044328 / 9789811044328

Verlag: Springer Singapore

Erscheinungsdatum: 06.10.2017

Seiten: 137

Auflage: 1

Autor(en): Nicolas Brodusch, Hendrix Demers, Raynald Gauvin

74,89 € inkl. MwSt.
kostenloser Versand

lieferbar - Lieferzeit 10-15 Werktage

zurück