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Fundamental Aspects of Ultrathin Dielectrics on Si-based Devices

Produktform: E-Buch Text Elektronisches Buch in proprietärem

An extrapolation of ULSI scaling trends indicates that minimum feature sizes below 0.1 mu and gate thicknesses of weiterlesen

Dieser Artikel gehört zu den folgenden Serien

Elektronisches Format: PDF

Sprache(n): Englisch

ISBN: 978- / 978-9401150088 / 9789401150088

Verlag: Springer Netherland

Erscheinungsdatum: 06.12.2012

Seiten: 507

Herausgegeben von Evgeni Gusev, Eric Garfunkel, Alexander Vul'

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