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Fundamentals of Bias Temperature Instability in MOS Transistors

Characterization Methods, Process and Materials Impact, DC and AC Modeling

Produktform: Buch / Einband - flex.(Paperback)

Dieser Artikel gehört zu den folgenden Serien

Sprache(n): Englisch

ISBN: 978-81-322-3424-1 / 978-8132234241 / 9788132234241

Verlag: Springer India

Erscheinungsdatum: 23.10.2016

Seiten: 269

Auflage: 1

Herausgegeben von Souvik Mahapatra

106,99 € inkl. MwSt.
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