Fundamentals of Electromigration-Aware Integrated Circuit Design

Sprache(n): Englisch

ISBN: 978-3-030-08811-8 / 978-3030088118 / 9783030088118

Verlag: Springer International Publishing

Erscheinungsdatum: 14.12.2018

Seiten: 159

Auflage: 1

Autor(en): Matthias Thiele, Jens Lienig