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Fundamentals of Nanoscale Film Analysis

Produktform: Buch / Einband - flex.(Paperback)

Sprache(n): Englisch

ISBN: 978-1-4419-3980-7 / 978-1441939807 / 9781441939807

Verlag: Springer US

Erscheinungsdatum: 29.10.2010

Seiten: 336

Auflage: 1

Zielgruppe: Graduate

Autor(en): Terry L. Alford, James W. Mayer, L.C. Feldman

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