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Helium Ion Microscopy

Principles and Applications

Produktform: Buch / Einband - flex.(Paperback)

Dieser Artikel gehört zu den folgenden Serien

Sprache(n): Englisch

ISBN: 978-1-4614-8659-6 / 978-1461486596 / 9781461486596

Verlag: Springer US

Erscheinungsdatum: 14.09.2013

Seiten: 64

Auflage: 1

Zielgruppe: Research

Autor(en): David C. Joy

53,49 € inkl. MwSt.
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