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High Performance Memory Testing

Design Principles, Fault Modeling and Self-Test

Produktform: Buch / Einband - fest (Hardcover)


Dieser Artikel gehört zu den folgenden Serien

Sprache(n): Englisch

ISBN: 978-1-4020-7255-0 / 978-1402072550 / 9781402072550

Verlag: Springer US

Erscheinungsdatum: 30.09.2002

Seiten: 250

Auflage: 1

Zielgruppe: Professional/practitioner

Autor(en): R. Dean Adams

160,49 € inkl. MwSt.
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