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High Performance Memory Testing

Design Principles, Fault Modeling and Self-Test

Produktform: Buch / Einband - flex.(Paperback)

Dieser Artikel gehört zu den folgenden Serien

Sprache(n): Englisch

ISBN: 978-1-4757-8474-9 / 978-1475784749 / 9781475784749

Verlag: Springer US

Erscheinungsdatum: 26.04.2013

Seiten: 250

Auflage: 1

Autor(en): R. Dean Adams

160,49 € inkl. MwSt.
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