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Hot Carrier Degradation in Semiconductor Devices

Produktform: Buch / Einband - fest (Hardcover)

Sprache(n): Englisch

ISBN: 978-3-319-08993-5 / 978-3319089935 / 9783319089935

Verlag: Springer International Publishing

Erscheinungsdatum: 27.11.2014

Seiten: 517

Auflage: 1

Zielgruppe: Professional/practitioner

Herausgegeben von Tibor Grasser

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