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Hot Carrier Degradation in Semiconductor Devices

Produktform: E-Buch Text Elektronisches Buch in proprietärem

Elektronisches Format: PDF

Sprache(n): Englisch

ISBN: 978-3-319-08994-2 / 978-3319089942 / 9783319089942

Verlag: Springer International Publishing

Erscheinungsdatum: 29.10.2014

Seiten: 517

Herausgegeben von Tibor Grasser

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