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Hot Carrier Degradation in Semiconductor Devices

Produktform: Buch / Einband - flex.(Paperback)

Sprache(n): Englisch

ISBN: 978-3-319-35912-0 / 978-3319359120 / 9783319359120

Verlag: Springer International Publishing

Erscheinungsdatum: 24.09.2016

Seiten: 517

Auflage: 1

Herausgegeben von Tibor Grasser

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