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Hyperspectral Imaging Microscopy for Atomic Layer Mapping of Two-Dimensional Materials

Produktform: Buch / Einband - flex.(Paperback)

Reports on hyperspectral imaging microscopy techniques for atomic layer mapping of two-dimensional materialsweiterlesen

Dieser Artikel gehört zu den folgenden Serien

Sprache(n): Englisch

ISBN: 978-3-8440-8517-4 / 978-3844085174 / 9783844085174

Verlag: Shaker

Erscheinungsdatum: 28.03.2022

Seiten: 173

Auflage: 1

Autor(en): Xingchen Dong

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