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In-situ Electron Microscopy

Applications in Physics, Chemistry and Materials Science

Produktform: Buch / Einband - fest (Hardcover)

Von den Grundlagen über das Experiment bis zur Anwendung zeigt dieses Buch, wie sich Ionenstrahlanlagen, Rasterelektronenmikroskope und Transmissionselektronenmikroskope zur Beobachtung von Phänomenen bis hinunter zum Nanomaßstab in Echtzeit einsetzen lassen. Nach einem theoretischen Überblick werden experimentelle Verfahren zur Untersuchung von Aufwachsprozessen, Schmelzen, chemischen Reaktionen und Dotierung besprochen; außerdem geht es um die Messung mechanischer, magnetischer, optischer und elektronischer Kenndaten. Der letzte Abschnitt widmet sich Fragen der Soft-Matter-Charakterisierung.weiterlesen

Sprache(n): Englisch

ISBN: 978-3-527-31973-2 / 978-3527319732 / 9783527319732

Verlag: Wiley-VCH

Erscheinungsdatum: 26.04.2012

Seiten: 402

Auflage: 1

Herausgegeben von James M. Howe, Gerhard Dehm, Josef Zweck

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