Interconnect Noise Optimization in Nanometer Technologies

Sprache(n): Englisch

ISBN: 978-1-4419-3844-2 / 978-1441938442 / 9781441938442

Verlag: Springer US

Erscheinungsdatum: 29.10.2010

Seiten: 137

Auflage: 1

Autor(en): Magdy Bayoumi, Mohamed Elgamel, Magdy A. Bayoumi