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Interfacial Compatibility in Microelectronics

Moving Away from the Trial and Error Approach

Produktform: Buch / Einband - flex.(Paperback)

Dieser Artikel gehört zu den folgenden Serien

Sprache(n): Englisch

ISBN: 978-1-4471-6068-7 / 978-1447160687 / 9781447160687

Verlag: Springer London

Erscheinungsdatum: 22.02.2014

Seiten: 218

Auflage: 1

Autor(en): Tomi Laurila, Vesa Vuorinen, Mervi Paulasto-Kröckel, Markus Turunen, Toni T. Mattila, Jorma Kivilahti

160,49 € inkl. MwSt.
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