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Interfacial Compatibility in Microelectronics

Moving Away from the Trial and Error Approach

Produktform: E-Buch Text Elektronisches Buch in proprietärem

Dieser Artikel gehört zu den folgenden Serien

Elektronisches Format: PDF

Sprache(n): Englisch

ISBN: 978-1-4471-2470-2 / 978-1447124702 / 9781447124702

Verlag: Springer London

Erscheinungsdatum: 10.01.2012

Seiten: 218

Autor(en): Tomi Laurila, Vesa Vuorinen, Mervi Paulasto-Kröckel, Markus Turunen, Toni T. Mattila, Jorma Kivilahti

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