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Introduction to Spectroscopic Ellipsometry of Thin Film Materials

Instrumentation, Data Analysis and Applications

Produktform: Buch / Einband - flex.(Paperback)

Dieses Buch ist eine aktualisierte Einführung in die Anwendung der spektrometrischen Ellipsometrie mit ihrem praktischen Einsatz bei der Untersuchung von Grenzflächeneigenschaften, Elektronenstrukturen und Quasiteilcheneigenschaften verschiedener Klassen von Dünnschichtmaterialien.weiterlesen

Sprache(n): Englisch

ISBN: 978-3-527-34951-7 / 978-3527349517 / 9783527349517

Verlag: Wiley-VCH

Erscheinungsdatum: 13.04.2022

Seiten: 208

Auflage: 1

Autor(en): Andrew T. S. Wee, Xinmao Yin, Chi Sin Tang

102,00 € inkl. MwSt.
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