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Introduction to Spectroscopic Ellipsometry of Thin Film Materials

Instrumentation, Data Analysis and Applications

Produktform: E-Buch Text Elektronisches Buch in proprietärem

Dieses Buch ist eine aktualisierte Einführung in die Anwendung der spektrometrischen Ellipsometrie mit ihrem praktischen Einsatz bei der Untersuchung von Grenzflächeneigenschaften, Elektronenstrukturen und Quasiteilcheneigenschaften verschiedener Klassen von Dünnschichtmaterialien.weiterlesen

Elektronisches Format:

Sprache(n): Englisch

ISBN: 978-3-527-83395-5 / 978-3527833955 / 9783527833955

Verlag: Wiley-VCH

Erscheinungsdatum: 08.03.2022

Seiten: 208

Auflage: 1

Autor(en): Andrew T. S. Wee, Xinmao Yin, Chi Sin Tang

90,99 € inkl. MwSt.
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