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Investigations on rf breakdown phenomenon in high gradient accelerating structures

Produktform: Buch / Einband - fest (Hardcover)

Dieser Artikel gehört zu den folgenden Serien

Sprache(n): Englisch

ISBN: 978-9811079252 / 978-9811079252 / 9789811079252

Verlag: Springer Singapore

Erscheinungsdatum: 26.01.2018

Seiten: 131

Auflage: 1

Autor(en): Jiahang Shao

106,99 € inkl. MwSt.
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