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Kelvin Probe Force Microscopy

From Single Charge Detection to Device Characterization

Produktform: Buch / Einband - fest (Hardcover)

Dieser Artikel gehört zu den folgenden Serien

Sprache(n): Englisch

ISBN: 978-3-319-75686-8 / 978-3319756868 / 9783319756868

Verlag: Springer International Publishing

Erscheinungsdatum: 19.03.2018

Seiten: 521

Auflage: 1

Herausgegeben von Sascha Sadewasser, Thilo Glatzel

213,99 € inkl. MwSt.
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