Noch Fragen? 0800 / 33 82 637

Artikel empfehlen

Kelvin Probe Force Microscopy

From Single Charge Detection to Device Characterization

Produktform: E-Buch Text Elektronisches Buch in proprietärem

Dieser Artikel gehört zu den folgenden Serien

Elektronisches Format: PDF

Sprache(n): Englisch

ISBN: 978-3-319-75687-5 / 978-3319756875 / 9783319756875

Verlag: Springer International Publishing

Erscheinungsdatum: 09.03.2018

Seiten: 521

Herausgegeben von Sascha Sadewasser, Thilo Glatzel

213,99 € inkl. MwSt.
Recommended Retail Price
kostenloser Versand

lieferbar - Lieferzeit 10-15 Werktage

zurück