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Lifetime Spectroscopy

A Method of Defect Characterization in Silicon for Photovoltaic Applications

Produktform: Buch / Einband - flex.(Paperback)

Dieser Artikel gehört zu den folgenden Serien

Sprache(n): Englisch

ISBN: 978-3-642-06453-1 / 978-3642064531 / 9783642064531

Verlag: Springer Berlin

Erscheinungsdatum: 19.10.2010

Seiten: 492

Auflage: 1

Autor(en): Stefan Rein

320,99 € inkl. MwSt.
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