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Low Substrate Temperature Modeling Outlook of Scaled n-MOSFET

Produktform: Buch / Einband - flex.(Paperback)

Dieser Artikel gehört zu den folgenden Serien

Sprache(n): Englisch

ISBN: 978-3-031-00906-8 / 978-3031009068 / 9783031009068

Verlag: Springer International Publishing

Erscheinungsdatum: 13.07.2018

Seiten: 77

Auflage: 1

Autor(en): Nabil Shovon Ashraf

35,30 € inkl. MwSt.
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