Machine Learning Support for Fault Diagnosis of System-on-Chip

Sprache(n): Englisch

ISBN: 978-3-031-19638-6 / 978-3031196386 / 9783031196386

Verlag: Springer International Publishing

Erscheinungsdatum: 14.03.2023

Seiten: 316

Auflage: 1

Herausgegeben von Patrick Girard, Shawn Blanton, Li-C. Wang