Machine Learning Support for Fault Diagnosis of System-on-Chip

Elektronisches Format: PDF

Sprache(n): Englisch

ISBN: 978-3-031-19639-3 / 978-3031196393 / 9783031196393

Verlag: Springer International Publishing

Erscheinungsdatum: 13.03.2023

Seiten: 316

Herausgegeben von Patrick Girard, Shawn Blanton, Li-C. Wang