Microelectronic Test Structures for CMOS Technology

Sprache(n): Englisch

ISBN: 978-1-4899-9055-6 / 978-1489990556 / 9781489990556

Verlag: Springer US

Erscheinungsdatum: 01.10.2014

Seiten: 373

Auflage: 1

Zielgruppe: Professional/practitioner

Autor(en): Manjul Bhushan, Mark B. Ketchen