Microelectronic Test Structures for CMOS Technology

Sprache(n): Englisch

ISBN: 978-1-4419-9376-2 / 978-1441993762 / 9781441993762

Verlag: Springer US

Erscheinungsdatum: 30.08.2011

Seiten: 373

Auflage: 1

Zielgruppe: Professional/practitioner

Autor(en): Manjul Bhushan, Mark B. Ketchen