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Microscopy of Semiconducting Materials

Proceedings of the 14th Conference, April 11-14, 2005, Oxford, UK

Produktform: E-Buch Text Elektronisches Buch in proprietärem

Dieser Artikel gehört zu den folgenden Serien

Elektronisches Format: PDF

Sprache(n): Englisch

ISBN: 978-3-540-31915-3 / 978-3540319153 / 9783540319153

Verlag: Springer Berlin

Erscheinungsdatum: 25.08.2006

Seiten: 540

Herausgegeben von A.G. Cullis, John L. Hutchison

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