Mitigating Process Variability and Soft Errors at Circuit-Level for FinFETs

Elektronisches Format: PDF

Sprache(n): Englisch

ISBN: 978-3-030-68368-9 / 978-3030683689 / 9783030683689

Verlag: Springer International Publishing

Erscheinungsdatum: 10.03.2021

Seiten: 131

Autor(en): Ricardo Reis, Alexandra Zimpeck, Cristina Meinhardt, Laurent Artola