Mitigating Process Variability and Soft Errors at Circuit-Level for FinFETs

Sprache(n): Englisch

ISBN: 978-3-030-68370-2 / 978-3030683702 / 9783030683702

Verlag: Springer International Publishing

Erscheinungsdatum: 11.03.2022

Seiten: 131

Auflage: 1

Autor(en): Ricardo Reis, Alexandra Zimpeck, Cristina Meinhardt, Laurent Artola