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Nanomechanical and Nanoelectromechanical Phenomena in 2D Atomic Crystals

A Scanning Probe Microscopy Approach

Produktform: Buch / Einband - flex.(Paperback)

Dieser Artikel gehört zu den folgenden Serien

Sprache(n): Englisch

ISBN: 978-3-319-88898-9 / 978-3319888989 / 9783319888989

Verlag: Springer International Publishing

Erscheinungsdatum: 04.09.2018

Seiten: 122

Auflage: 1

Autor(en): Nicholas D. Kay

106,99 € inkl. MwSt.
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