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Nanometer Variation-Tolerant SRAM

Circuits and Statistical Design for Yield

Produktform: Buch / Einband - flex.(Paperback)

Sprache(n): Englisch

ISBN: 978-1-4939-0220-0 / 978-1493902200 / 9781493902200

Verlag: Springer US

Erscheinungsdatum: 15.10.2014

Seiten: 172

Auflage: 1

Autor(en): Mohab Anis, Mohamed Abu Rahma

106,99 € inkl. MwSt.
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