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Oberflächenanalytische Charakterisierung von metallischen Verunreinigungen und Oxiden auf GaAs

Produktform: Buch / Einband - flex.(Paperback)

Der Autor entwickelt ein Verfahren zum quantitativen Nachweis von metallischen Spurenelementen, das es möglich macht, Oberflächenbelegungen auf GaAs mit sehr geringen Konzentrationen quantitativ nachzuweisen.weiterlesen

Sprache(n): Deutsch

ISBN: 978-3-8244-2091-9 / 978-3824420919 / 9783824420919

Verlag: Deutscher Universitätsverlag

Erscheinungsdatum: 23.09.1997

Seiten: 138

Auflage: 1

Zielgruppe: Upper undergraduate

verfasst mit: Frank Schröder-Oeynha, Frank Schröder-Oeynhausen

49,95 € inkl. MwSt.
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