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Optically Active Charge Traps and Chemical Defects in Semiconducting Nanocrystals Probed by Pulsed Optically Detected Magnetic Resonance

Produktform: Buch / Einband - flex.(Paperback)

Dieser Artikel gehört zu den folgenden Serien

Sprache(n): Englisch

ISBN: 978-3-319-03328-0 / 978-3319033280 / 9783319033280

Verlag: Springer International Publishing

Erscheinungsdatum: 09.08.2015

Seiten: 90

Auflage: 1

Autor(en): Kipp van Schooten

106,99 € inkl. MwSt.
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